包裝印刷網(wǎng)>產(chǎn)品庫(kù)>儀器儀表>光學(xué)儀器>電子顯微鏡>>原子力顯微鏡

原子力顯微鏡

參考價(jià)	面議

參考價(jià)

面議

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱通透光學(xué)儀器（成都）有限公司
品牌
型號(hào)DimensionX
所在地成都市
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2026/4/21 10:03:10
訪問(wèn)次數(shù)45

產(chǎn)品標(biāo)簽:

在線詢價(jià)收藏產(chǎn)品點(diǎn)擊查看電話

索取相關(guān)資料

公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

通透光學(xué)儀器（成都）有限公司，是一家致力于為客戶提供一站式實(shí)驗(yàn)室解決方案的系統(tǒng)集成商，公司主要人員來(lái)自于以顯微鏡為主的光學(xué)微區(qū)形態(tài)學(xué)分析系統(tǒng)，化學(xué)元素分析系統(tǒng)，長(zhǎng)度計(jì)量分析系統(tǒng)，時(shí)間微區(qū)解決系統(tǒng)，半導(dǎo)體綜合測(cè)試系統(tǒng)等領(lǐng)域的工程背景研發(fā)和銷售人員。通透光學(xué)儀器（成都）有限公司擁有自研品牌 TONT INSIGHT 的顯微分析系統(tǒng)，我們提供從宏觀尺度的三維激光掃描儀、亞宏觀的工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡、元素分析光譜儀、微觀領(lǐng)域的顯微分析系統(tǒng)、超微觀領(lǐng)域掃描電鏡、納米CT，到原位微區(qū)的熒光壽命、納米力學(xué)、納米壓痕、高溫納米分析、原位光譜等多種跨學(xué)科分析系統(tǒng)。通透光學(xué)儀器（成都）有限公司是德國(guó)布魯克分子光譜、北京中科科儀KYKY、深圳古安泰等的簽約代理商，彼此之間密切合作，共同服務(wù)于工業(yè)儀器行業(yè)的客戶。通透光學(xué)儀器（成都）有限公司總部位于成都，在北京、上海、廣州、深圳、西安等地設(shè)立了分支機(jī)構(gòu)與代表處，建立了覆蓋全國(guó)的營(yíng)銷網(wǎng)絡(luò)與技術(shù)服務(wù)中心。我們來(lái)自成都，我們堅(jiān)持口碑，我們不崇洋媚外，我們不迷信品牌，我們只賣對(duì)的，不賣貴的，我們始終堅(jiān)持中立的原則為您提供最合適的解決方案。我們?cè)敢庥梦覀兊慕?jīng)驗(yàn)和行業(yè)儲(chǔ)備，為信任我們的顧客提供另一種選項(xiàng)，讓您始終有多種可選方案。一幫志同道合的人，付出一輩子的時(shí)間，干好一件平凡的事！

展開顯示更多內(nèi)容

傅里葉近紅外光譜儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介在線詢價(jià)

產(chǎn)品簡(jiǎn)介布魯克的DimensionXR掃描探針顯微鏡（SPM）系統(tǒng)攘括了原子力顯微鏡數(shù)十年來(lái)的研究和技術(shù)創(chuàng)新

原子力顯微鏡產(chǎn)品信息

產(chǎn)品簡(jiǎn)介
布魯克的Dimension XR掃描探針顯微鏡（SPM）系統(tǒng)攘括了原子力顯微鏡數(shù)十年來(lái)的研究和技術(shù)創(chuàng)新。通過(guò)常規(guī)的真原子相分辨率，以及一系列獨(dú)特的技術(shù)，包括峰值力輕敲模式、數(shù)據(jù)立方體模式、SECM和AFM-nDMA，Dimesnion XR系統(tǒng)可提供的性能和功能。Dimension XR 系列將這些技術(shù)整合提供完整的解決方案，以滿足納米力學(xué)、納米電氣和納米電化學(xué)應(yīng)用的需求。在空氣、流體、電氣或化學(xué)反應(yīng)環(huán)境中對(duì)材料和納米尺度系統(tǒng)的定量研究從未如此簡(jiǎn)單。
技術(shù)優(yōu)勢(shì)
1，分辨率成像，輕易分辨DNA小溝結(jié)構(gòu)
2，高寬帶，從而快速掃描，觀察實(shí)時(shí)變化，同時(shí)具備速度和穩(wěn)定性
3，潛力無(wú)限，極其靈活的開放式架構(gòu)，全面的環(huán)境控制方案，用于電池、有機(jī)太陽(yáng)能等領(lǐng)域
4，獲得面的納米尺度的定量特性參數(shù)
5，能夠在大氣及液體環(huán)境下準(zhǔn)確地觀測(cè)樣品表面微區(qū)（納米及亞微米尺度）三維形貌
所有模式、所有環(huán)境的分辨率
無(wú)論是在液體環(huán)境中獲得樣品真原子相，還是在空氣中獲得樣品模量和導(dǎo)電性的原子級(jí)分辨率分布，Dimension XR系統(tǒng)在所有測(cè)量中都能提供的分辨率。它們使用布魯克專有的峰值力輕敲技術(shù)在各種軟硬樣品上的性能表征已成為，包括聚合物中的分子缺陷或晶體中的缺陷。同樣技術(shù)也被用來(lái)分辨粗糙玻璃上的精細(xì)起伏結(jié)構(gòu)，且具有驚人的穩(wěn)定性，在數(shù)百次掃描后還能保持最初的分辨率。Dimension XR系統(tǒng)將峰值力輕敲模式與穩(wěn)定性、獨(dú)特的探針技術(shù)和布魯克數(shù)十年的針尖掃描創(chuàng)新經(jīng)驗(yàn)相結(jié)合，在各種尺寸、重量或介質(zhì)的樣品上，在任何應(yīng)用中都實(shí)現(xiàn)了穩(wěn)定的分辨率成像。
專有的數(shù)據(jù)立方體模式
這些模式利用快速力陣列模式在每個(gè)像素點(diǎn)中執(zhí)行力曲線測(cè)量，并具有用戶定義的停留時(shí)間數(shù)據(jù)采集。使用高速數(shù)據(jù)捕獲功能，在停留期間執(zhí)行多種電學(xué)測(cè)量，從而在每個(gè)像素上產(chǎn)生電學(xué)和力學(xué)譜。數(shù)據(jù)立方體模式在單次測(cè)量中提供完整的表征，這在商用AFM中是的。
Dimension XR的數(shù)據(jù)立方體模式在每個(gè)像素上提供多維納米級(jí)信息，在單個(gè)測(cè)量中同時(shí)采集電學(xué)和力學(xué)特性。

DCUBE-PFM 測(cè)量清楚地顯示 BiFeO3 薄膜上每個(gè)鐵電疇在不同電場(chǎng)下的極化翻轉(zhuǎn)。
的峰值力掃描電化學(xué)顯微鏡
```
（A）布魯克預(yù)裝的峰值力輕敲掃描電化學(xué)顯微鏡探針提供了簡(jiǎn)單、安全的操控性，的穩(wěn)定性，在數(shù)小時(shí)成像和多次使用-清潔循環(huán)中都能保持分辨率。（B）探針的掃描電鏡圖像;（C）使用COMSOL模擬的在10mM[Ru(NH3)6]3溶液中的針尖電化學(xué)電流分布；（D） 從 50 次連續(xù)掃描中挑選的第 1、25 和 50 次循環(huán)伏安掃描譜，掃描速率為20 mV/s;（E）長(zhǎng)達(dá)2小時(shí)的恒流測(cè)試，以Ag/AgCl為參比電極。（F）模擬（虛線）和實(shí)驗(yàn)（實(shí)線）獲得的接近曲線。C和E圖像由 加州理工的C. Xiang和 Y. Chen提供。
```
具有納米級(jí)空間分辨率的峰值力輕敲掃描探針顯微鏡重新定義了液體中納米尺度下電化學(xué)過(guò)程表征。峰值力輕敲掃描探針電化學(xué)顯微鏡在數(shù)量級(jí)上顯著改善了與傳統(tǒng)方法的分辨率。這使得對(duì)能源存儲(chǔ)系統(tǒng)、腐蝕科學(xué)和生物傳感器的更全新研究，為單個(gè)納米粒子、納米相和納米孔進(jìn)行新測(cè)量打開了大門。只有峰值力輕敲掃描探針電化學(xué)顯微鏡能同時(shí)形貌、電化學(xué)、電學(xué)和力學(xué)分布圖，并具有納米尺度的橫向分辨率。
應(yīng)用領(lǐng)域
用AFM拓展您的應(yīng)用
憑借一整套出色的AFM成像模式，布魯克能為您每項(xiàng)研究提供適用的 AFM 技術(shù)。
基于核心成像模式（接觸模式和輕敲模式），布魯克提供的全套 AFM測(cè)試模式，允許用戶探測(cè)樣品的電學(xué)、磁性等豐富性能。布魯克的全新的峰值力輕敲技術(shù)作為一種新的核心成像模式，已被應(yīng)用到多種測(cè)量模式中，能同時(shí)提供形貌、電學(xué)和力學(xué)性能數(shù)據(jù)。